अवलोकन:

क्रश एक धेरै छविशिष्टc को सुरक्षा प्रमाणित गर्न परीक्षणएल्स, c को क्रश टक्कर अनुकरण गर्दैएल्सवा अन्तिम उत्पादनsदैनिक प्रयोगमा। त्यहाँ सामान्यतया दुई प्रकारका हुन्छन्क्रसपरीक्षण: फ्लैटक्रसर आंशिकक्रस। फ्ल्याटको तुलनामाक्रस, आंशिकइन्डेन्टेसनगोलाकार वा बेलनाकार इन्डेन्टरको कारणले गर्दा हुने सम्भावना बढी हुन्छसेल प्रभावहीन। इन्डेन्टर जति तिखो हुन्छ, लिथियम ब्याट्रीको मूल संरचनामा जति बढी ध्यान केन्द्रित हुन्छ, त्यति नै गम्भीर रूपमा भित्री भाग फुट्छकोर, जसले कोरको विरूपण र विस्थापन निम्त्याउनेछ, र इलेक्ट्रोलाइट चुहावट वा आगो जस्ता गम्भीर परिणामहरू पनि निम्त्याउँछ। त्यसोभए कसरी हुन्छक्रसनेतृत्व गर्ननिष्क्रियताc कोell? यहाँस्थानीय एक्सट्रुजन परीक्षणमा कोरको आन्तरिक संरचनाको विकाससँग परिचय गराउँछ।

क्रशप्रक्रिया:

• निचोड बल पहिले सेल घेरामा लागू हुन्छ, र घेरा विकृत हुन्छ। त्यसपछि बल ब्याट्रीको भित्री भागमा स्थानान्तरण गरिन्छ, र सेल असेंबली पनि विकृत हुन थाल्छ।
• क्रश टाउकोको थप कम्प्रेसनको साथ, विरूपण विस्तार हुँदैछ र स्थानीयकरण बनाइन्छ। एकै समयमा, प्रत्येक इलेक्ट्रोड तह बीचको लेयर स्पेसिङ बिस्तारै छोटो हुन्छ। निरन्तर सङ्कुचन अन्तर्गत, हालको कलेक्टर झुकिएको र विकृत छ, र कतरनी ब्यान्डहरू बनाइन्छ। जब इलेक्ट्रोड सामग्रीको विरूपण सीमामा पुग्छ, इलेक्ट्रोड सामग्रीले दरारहरू उत्पादन गर्नेछ।
• विरूपणको वृद्धि संग, दरार बिस्तारै हालको कलेक्टरमा विस्तार हुन्छ, जुन च्यातिन्छ र डक्टाइल फ्र्याक्चर उत्पादन गर्दछ। थप रूपमा, रेडियल दरार तनाव र रेडियल विस्थापनको बृद्धिको कारणले लामो हुन्छ।
• यस बिन्दुमा, एक्स्ट्रुजन बलले सेललाई कम्प्रेस गर्न जारी राख्छ, जसले गर्दा अधिक इलेक्ट्रोड तहहरू विरूपणबाट ग्रस्त हुन्छन्, जसले शियर जोनको विस्तार, झुकाव कोण (45°) मा परिवर्तन, र शियर जोन दायराको थप विस्तारमा निम्त्याउँछ।
• अन्तमा, जब डायाफ्राम तानिन्छ र घुमाइन्छ, दरारहरू डायाफ्रामसम्म फैलिन्छ। जब यो निष्क्रियता बिन्दुमा पुग्छ, डायाफ्राम च्यातिन्छ र छेउछाउको इलेक्ट्रोडहरू सम्पर्कमा आउँछन्, आन्तरिक सर्ट-सर्किट बनाउँछ। यस बिन्दुमा, सर्ट-सर्किट बिन्दुमा ठूलो सर्ट-सर्किट करेन्ट उत्पन्न हुन्छ, जसले तीव्र तताउने र तापक्रमको द्रुत वृद्धिलाई निम्त्याउँछ, जसले सेल भित्र साइड प्रतिक्रियाहरू ट्रिगर गर्दछ र अन्ततः थर्मल दुरुपयोग हुन सक्छ।

सारांश:

क्रश टेस्ट एक प्रकारको यान्त्रिक दुरुपयोग हो। मेकानिकल दुरुपयोग लिथियम-आयन ब्याट्रीहरूको दैनिक प्रयोगमा एक अपरिहार्य सुरक्षा खतरा हो, जसले डायाफ्राम फुट्न सक्छ र आन्तरिक सर्ट सर्किट ट्रिगर गर्न सक्छ। यद्यपि, क्रस टाउकोको आकारको कारण, क्रस प्रेसरको साइज र सेलको बल आफैमा भिन्न हुन्छ, क्रस टेस्टको नतिजाहरू प्रायः धेरै फरक हुन्छन्। सेल सामग्री वा संरचनामा अप्टिमाइजेसनलाई सकेसम्म क्रस टेस्टद्वारा ल्याइएको सेलको निष्क्रियताबाट बच्न आवश्यक छ। उदाहरण को लागी, एक सुरक्षित, अधिक नरम डायाफ्राम को प्रयोग वा कोशिका को गर्मी अपव्यय प्रदर्शन मा सुधार को थर्मल दुरुपयोग को धेरै रोक्छ जब आन्तरिक सर्ट सर्किट हुन्छ।